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UFO Probe® 카드 - PIC 웨이퍼 테스트를 위한 새로운 테스트 카드

광집적 회로(PIC)는 미래의 칩입니다. 집적형 포토닉스는 데이터 및 신호 처리에 전기 대신 빛을 사용합니다.

UFO Probe®카드는 PIC의 광학 및 전자 기능을 동시에 테스트하는 도구입니다. Jenoptik 프로브 카드는 웨이퍼 샘플러의 정렬 허용 오차에 민감하지 않은 광집적 회로의 광학 스캔 콘셉트를 기반으로 합니다. 따라서 광전자 테스트 카드는 시판되는 웨이퍼 샘플러와 함께 사용할 수 있으며, 광집적 회로를 테스트할 때 적절한 높은 처리량을 보장합니다.

Speed up the world

Thanks to Photonic Integrated Circuits (PICs), optics is becoming the key to fast data communication. The UFO Probe® card for PIC wafer level testing is setting new standards, linking the present and the future.
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New challenges for wafer testing

PICs are produced in a wide variety of designs on wafers using classic lithography methods and with existing equipment from established semiconductor manufacturers. The wafers are manufactured in almost the same way as electronic components.

Wafer testing poses its own unique challenge. Due to additional optical components to be tested, the test throughput rates have not yet been achieved as is the case with established IC function tests. Test solutions for visual inspection still have to be procured and integrated, too. A complex realignment of the optical interfaces of the test device in the submicron range is also required for each chip.

A step ahead with Jenoptik

The UFO Probe® card allows simultaneous testing of electronic and optical functions for the first time – i.e. ICs and PICs – with just one test card. What's special about this case is that both work on existing test infrastructure. Furthermore, the UFO Probe® card from Jenoptik does not require each chip to be set up individually. This saves a lot of time.
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진행 과정

처리량이 많은 연속 생산에 적합한 효율적인 테스트 방법 덕분에 PIC 에코시스템을 확장할 수 있으며 여러 칩을 동시에 검증할 수 있어 테스트 시간을 단축할 수 있습니다.

혁신

표준 테스트 장비에서 실행할 수 있는 유일한 상용 대량 생산용 테스트 솔루션.

품질

생산 초기 단계에서 스크랩을 식별하여 수율을 높입니다: 모든 PIC의 각종 테스트를 웨이퍼에서 수행할 수 있습니다.

플러그 앤 플레이

표준 IC 테스터 및 자동 테스터에서 작동하도록 설계되었습니다. 낮은 지출 및 커미셔닝 비용.

효율성

불량 부품을 조기에 식별하여 수율을 높이고 생산 흐름을 최적화할 수 있습니다.

유연성

광학 I/O 채널의 피치 및 수를 사용자에 맞게 구성할 수 있습니다.

광학 데이터 통신 활성화

Video

현재 및 향후 프로브 카드 적용 분야

현재의 UFO Probe® 기술은 특히 광 트랜시버용 광집적 회로(PIC)의 웨이퍼 테스트를 위해 설계되었습니다. 기타 응용 분야는 다음과 같습니다: LED/마이크로 LED, VCSEL, 포토다이오드, MEMS 미러 및 PCM 구조.

기존 테스트 인프라에 쉽게 통합할 수 있습니다

내장형 프로브 카드 상세 보기

UFO Probe® 카드는 표준 IC 프로버 및/또는 자동 테스트 장비에서 작동하도록 설계되었습니다. 따라서 Jenoptik은 PIC 웨이퍼 레벨 테스트를 위한 플러그 앤 플레이 솔루션을 제공하고 있습니다. 요건에 따라, 웨이퍼 샘플러용 표준 인터페이스를 예를 들어 유럽 카드 형식과 같은 프로브 카드의 레이아웃/설계로 쉽게 구현할 수 있습니다. UFO Probe® 카드 취급 방법은 전기 테스트 카드와 비슷하기 때문에 기존 인력은 직원은 광범위한 추가 교육을 받을 필요가 없습니다.

UFO Probe® 카드를 사용하면 IC 및 PIC를 동시에 테스트할 수 있습니다

UFO Probe® 카드의 기능: IC 및 PIC 동시 테스트
  • 모놀리식 광학 모듈
  • 방향에 민감하지 않은 수직 방출 PIC용 광학 커플링
  • 동시 광학 및 전기 스캐닝
  • 입증된 니들 기술 사용(테스트 카드 제조업체와의 파트너십)
  • 웨이퍼 샘플러에 대한 표준 인터페이스를 구현할 수 있습니다: 예:유럽 카드 형식

UFO Probe® 광전자 카드 기술 데이터

사양

현세대

미래 세대

테스트 대상 구성품
(테스트 대상 장치/DUT)

전자 및 광자 집적 회로(EPIC), 데이터 전송 및 통신 애플리케이션을 위한 광 트랜시버

트랜시버, 포토다이오드,
바이오센서 및 솔리드 스테이트 LIDAR용 EPIC

전기 니들 기술

캔틸레버

캔틸레버,수직형/고급형

광학 커플링 원리 DUT

수직 커플링

수직 커플링

광학 입력/출력(OI/OO) 개수

최대 16

<200

피치 OI/OO

250 μm

유동적

OI/OO 어레이 레이아웃 구성

입력/출력 방향이 동일한 선형 배열

필요에 따라 구성 가능

커플링 브래킷

0° 및 11.6°

0° - 20°

지원되는 파장

1,310 nm 및 1,550 nm

VIS to NIR (U 대역)

삽입 손실 측정

반복성: ~ 0.3 – 0.5 dB

반복성 목표: 0.1 dB

RF 측정

최대 100MHz

GHz

인터페이스

유럽 카드 형식

유럽 카드 형식,
ATE 인터페이스


제품 세부 정보

더 자세한 정보를 원하시면 클릭하십시오.

하이브리드 기술 플랫폼 -

UFO Probe® Card를 사용하면 IC와 PIC를 동시에 테스트할 수 있어 수율을 높이고 테스트 시간을 단축할 수 있습니다.
  • 광학 및 전기 프로빙 결합
  • 다중 광학 I/O를 위한 수동형 광학 회로와 직접 검출을 위한 능동형 구성품을 갖춘 광학 모듈
  • 정렬에 민감하지 않은 수직 방출 PIC용 광학 커플링
  • DUT에 대한 전기 인터페이스로서의 캔틸레버 니들 셋업 / 입증된 니들 기술 활용
더 자세한 정보를 원하시면 클릭하십시오.

정밀한 터치 다운으로 귀중한 시간을 절약할 수 있습니다 -

UFO Probe® 카드의 광학 콘셉트는 프로버 정렬 허용 오차를 보상하여 귀중한 시간을 절약할 수 있게 합니다.
  • 단 하나의 터치 다운으로 RX, TX, 정렬 채널 및 포괄적인 전기 테스트 가능
  • 배치당 1x 정렬,칩당 추가 정렬 없음
더 자세한 정보를 원하시면 클릭하십시오.

기존 인프라 사용 -

광집적 회로(PIC)를 이용하여 신기술을 통합하는 다음 단계를 수행할 수 있도록 다음과 같은 테스트 솔루션을 제공합니다:
  • 기존 웨이퍼 프로버 및 테스트 장비에서 사용할 수 있습니다
  • 기존 전자 테스트와 동일한 인력이 운용할 수 있습니다.
  • 추가 작업이 필요하지 않습니다(교육, 시스템 조정)
  • 프로브 헤드 플레이트용 표준 프로버 인터페이스(Eurocard 형식)인 금속 프레임
  • 다른 인터페이스로 설계 변경 가능

현대 세계는 효율적인 제조를 위해 광학 데이터 통신 및 솔루션이 필요합니다

  • 네트워크로 연결된 세상

    ... 나날이 더 빠르게 처리해야 하는 방대한 양의 데이터를 생성합니다.

  • 실리콘 포토닉스(SiPh) 칩

    ... 차세대 고성능 트랜스시버의 주요 구성품입니다.

  • 트랜시버

    ... 데이터를 전기 신호에서 광 신호로 또는 그 반대로 변환합니다.

  • 광 통신

    ... 데이터 센터가 데이터 속도와 데이터량을 높일 수 있도록 지원합니다.

  • 반도체

    ... 제조업체 및 테스트 서비스 제공업체는 기존 인프라와 호환되고 쉽게 통합할 수 있는 테스트 솔루션이 필요합니다.

  • UFO Probe® 카드

    ... 광학 및 전자 기능 테스트를 단 하나의 테스트 카드에 결합합니다. 기존 웨이퍼 프로버에 쉽게 통합할 수 있는 플러그 앤 플레이 솔루션입니다.

질문이 있으십니까? 저희 전문가들이 기꺼이 도와드립니다.

Enrico Piechotka

Global Product Group Manager

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