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UFO Probe® 카드 - PIC 웨이퍼 테스트를 위한 새로운 테스트 카드
광집적 회로(PIC)는 미래의 칩입니다. 집적형 포토닉스는 데이터 및 신호 처리에 전기 대신 빛을 사용합니다.
세상을 더 빠르게 만듭니다

UFO Probe® Card
Jenoptik 과 함께 한 발 앞서갑니다

진행 과정
처리량이 많은 연속 생산에 적합한 효율적인 테스트 방법 덕분에 PIC 에코시스템을 확장할 수 있으며 여러 칩을 동시에 검증할 수 있어 테스트 시간을 단축할 수 있습니다.
혁신
표준 테스트 장비에서 실행할 수 있는 유일한 상용 대량 생산용 테스트 솔루션.
품질
생산 초기 단계에서 스크랩을 식별하여 수율을 높입니다: 모든 PIC의 각종 테스트를 웨이퍼에서 수행할 수 있습니다.
플러그 앤 플레이
표준 IC 테스터 및 자동 테스터에서 작동하도록 설계되었습니다. 낮은 지출 및 커미셔닝 비용.
효율성
불량 부품을 조기에 식별하여 수율을 높이고 생산 흐름을 최적화할 수 있습니다.
유연성
광학 I/O 채널의 피치 및 수를 사용자에 맞게 구성할 수 있습니다.
광학 데이터 통신 활성화

현재 및 향후 프로브 카드 적용 분야
기존 테스트 인프라에 쉽게 통합할 수 있습니다

내장형 프로브 카드 상세 보기
UFO Probe® 카드를 사용하면 IC 및 PIC를 동시에 테스트할 수 있습니다
- Monolithic optical module
- Orientation-insensitive optical coupling for vertically emitting PICs
- Simultaneous optical and electrical scanning
- Optical concept compensates prober alignment tolerances
- Use of proven needle technology (partnership with test card manufacturers)
- Standard interface to wafer sampler can be implemented: e.g. European card format
UFO Probe® 광전자 카드 기술 데이터
사양 | 현세대 | 미래 세대 |
테스트 대상 구성품 | 전자 및 광자 집적 회로(EPIC), 데이터 전송 및 통신 애플리케이션을 위한 광 트랜시버 | 트랜시버, 포토다이오드, |
전기 니들 기술 | 캔틸레버 | 캔틸레버,수직형/고급형 |
광학 커플링 원리 DUT | 수직 커플링 | 수직 커플링 |
광학 입력/출력(OI/OO) 개수 | 최대 16 | <200 |
피치 OI/OO | 250 μm | 유동적 |
OI/OO 어레이 레이아웃 구성 | 입력/출력 방향이 동일한 선형 배열 | 필요에 따라 구성 가능 |
커플링 브래킷 | 0° 및 11.6° | 0° - 20° |
지원되는 파장 | 1,310 nm 및 1,550 nm | VIS to NIR (U 대역) |
삽입 손실 측정 | 반복성: ~ 0.3 – 0.5 dB | 반복성 목표: 0.1 dB |
RF 측정 | 최대 100MHz | GHz |
인터페이스 | 유럽 카드 형식 | 유럽 카드 형식, |